索书号：TTN61-62/1
ISBN:978-7-121-13926-0
责任者：（美）敦思摩尔（Dunsmore,J.P.）著
出版社：电子工业出版社
主题词：微波元件-测量-手册
馆藏库：图书馆二楼专业新书展厅
导 读
       在射频微波工程领域，矢量网络分析仪（VNA）被誉为“微波测试皇冠上的明珠”，而如何准确测量微波器件的S参数、非线性特性及系统可靠性，始终是困扰一线工程师的核心难题。由Joel P. Dunsmore撰写、陈新等专家翻译的《微波器件测量手册：矢量网络分析仪高级测量技术指南》，正是该领域公认的权威实用手册。
        作者Dunsmore是安捷伦（现Keysight）PNA系列网络分析仪的核心设计者，对仪器的硬件架构、校准算法及误差模型有着“设计者级别”的深刻理解。主译者陈新同样担任是德科技VNA固件工程师，确保了中文版的技术准确性与术语规范性。
       本书内容由浅入深，逻辑严谨。开篇系统梳理了微波测量的核心参数与各类器件特性，帮助读者建立完整的知识框架。随后深入VNA的系统架构与工作原理——这是理解测量极限、规避测量盲区的关键。全书的灵魂在于校准与误差修正章节，详细剖析了12项误差模型、SOLT、TRL等高级校准技巧，手把手教会读者如何剥离系统误差、直击器件本征特性。从第5章开始，全书逐类讲解了滤波器、放大器（包含增益压缩、大功率测试及噪声系数测量）、混频器及平衡器件的专项测量技术。书中结合PNA-X等先进测试平台，提供了大量针对“真实世界”非理想器件的最佳测量实践与疑难问题排查方法。
       无论你是射频系统工程师、测试技术人员，还是希望深挖测量原理本质的在校研究生，本书都将成为你案头不可或缺的“实战宝典”——它不仅告诉你“怎么测”，更从设计者的视角阐释“为什么要这样测”，助你真正掌握微波测量的核心要义。